Kaikki elektroniset laitteet sisältävät kapasitiivisia tai induktiivisia komponentteja,jotka voivat aiheuttaa suhteettoman suuren virran kytkettäessä laitetta.
FPGA:sta porakoneeseen, lähes jokainen komponentti tai laite vaatii kytkentävirran, joka ylittää selvästi...
Julkaistu: syys 23, 2020
Tässä artikkelissa oletetaan perustuntemus 5G:n fyysiseen kerrokseen; se keskittyy puolijohdelaitteiden testaamisen uusiin haasteisiin laajakaistaisille 5G-sovelluksille.
Julkaistu: huhti 27, 2021
Kiskojen jännitteet pienenevät ja toleranssit pienenevät. Tämän seurauksena tarkkojen virtakiskomittausten tekeminen on tullut paljon vaikeammaksi.
Teollisuuden dynamiikka johtaa sekä kiskojen jännitearvojen laskuun että toleranssien kiristymiseen monilla eri raiteilla. Tarkan...
Julkaistu: kesä 04, 2020
Useimmat organisaatiot eivät pidä tuotantotestiä ensisijaisena, mutta on välttämätöntä estää suuret laatukysymykset tuotteissa, jotka edustavat yrityksen brändiä asiakkaiden käsissä.
Tässä oppaassa tutustut työkaluihin ja näkemyksiin,...
Julkaistu: tammi 01, 2021
Tutkiakseen kytketyn tilan virtalähteen vakautta oskilloskoopilla luotu Bode-diagrammi sopii kriittisen vaiheen marginaalin ja vahvistusmarginaalin arvojen tarkistamiseen. Tekijät, jotka määrittävät, kuinka tyydyttäviä Bode-diagrammimittausten tulokset ovat, on otettava huomioon...
Julkaistu: kesä 04, 2020
